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令和元年度 秋期 問47

不良密度の範囲を逸脱する機能

出典: 令和元年度 秋期 ITパスポート試験 公開問題 問47 (IPA)

ソフトウェアの品質を判定する指標として,機能単位の不良件数をその開発規模で割った値を“不良密度”と定義する。不良密度の下限値と上限値を設定し,実績値がその範囲を逸脱した場合に問題ありと判定するとき,A 工程では問題がなく,B 工程で問題があると判定される機能はどれか。ここで,不良密度の下限値は 0.25 件/KS,上限値は 0.65 件/KS とする。また,不良密度の下限値,上限値及び開発規模は,両工程とも同じとする。

機能開発規模(KS)A 工程の不良件数(件)B 工程の不良件数(件)
機能 11063
機能 2201410
機能 3501040
機能 480328
  1. ア 機能 1
  2. イ 機能 2
  3. ウ 機能 3
  4. エ 機能 4
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正解: エ

ポイント

不良密度 = 不良件数 ÷ 開発規模 (KS) です。範囲は 0.25 以上 0.65 以下で、A 工程は範囲内、B 工程は範囲外になる機能を探します。

機能A 工程B 工程
機能 16 ÷ 10 = 0.60 (範囲内)3 ÷ 10 = 0.30 (範囲内)
機能 214 ÷ 20 = 0.70 (範囲外)10 ÷ 20 = 0.50
機能 310 ÷ 50 = 0.20 (範囲外)40 ÷ 50 = 0.80
機能 432 ÷ 80 = 0.40 (範囲内)8 ÷ 80 = 0.10 (範囲外)

条件に合うのは 機能 4 です。

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